TOPCONトップページ お問い合わせ
株式会社トプコンテクノハウストップページ
HOME
分析センター
製品情報
測定顕微鏡類
小径穴測定機
輝度計類
照度計類
JCSS
3次元画像計測
電子顕微鏡類
会社情報
セラミックス結晶粒界の微量元素分布 FAQ 製品お問い合わせ
セラミックスの結晶粒界に偏析する微量元素の分布

EM-002Bによる、サブナノメータ プローブを用いての、微量元素の高分解能マッピング像。

0.05mol%Lu2O3添加AL2O3のLu-Kα像とSTEM像


a広視野像              b高分解能像

     STEM 像
     STEM 像
     ルテチウム(Lu)像
     ルテチウム(Lu)像

撮影条件:


  a広視野像 b高分解能像
プローブ径: 0.7nm 0.7nm
Dwell Time: 0.04 sec 0.02 sec
撮込時間: 約4時間 約1時間
画素数: 512x512 256x256
加速電圧: 200kV


<CENTER><B>粒界部の 1nmステップのEDSプロファイル</B></CENTER>
粒界部の 1nmステップのEDSプロファイル

ご提供 東京大学工学部総合試験所 協調工学プロジェクト


 サイトマップ | 個人情報保護方針 | このサイトについて